徠卡DM500顯微鏡背散射電子像有較強的成分襯度。但是與二次電子像類似，徠卡DM500顯微鏡成分襯度常與形貌襯度同時存在，所以要設法加以分離。為此徠卡要充分利用上述特性。令探頭有效面積對樣品上一點所張的角定義為探測器的立體角，探頭中心線與樣品表面間夾角定義為探測器的檢出角。對于大角度傾轉的樣品，用小立體角的探頭放在接近樣品表面的低檢出角處，則測得的信號很強，而且徠卡DM500顯微鏡能靈敏反映樣品表面局部形貌的變化，形貌襯度強。如果探頭放在高檢出角處，由于背離了信號電子發射的峰區，故顯微鏡形貌襯度就很弱。但研究表明大散射角的電子數目隨原子序數而顯著變化，顯微鏡所以高檢出角處得到的背散射電子象具有明顯的成分襯度。這樣就可針對不同要求，利用顯微鏡樣品的傾轉臺和高、低檢出角的探測器，分別獲得顯微鏡成分襯度像和形貌襯度像。
在一定條件下背散射電子像也能顯示樣品的磁襯度，顯微鏡主要可反映鐵磁體樣品磁疇的自感強度。此外，當分析晶體樣品時，徠卡DM500顯微鏡背散射電子象也偶有可能顯示晶體襯度，如形成單晶樣品的電子通道圖樣，或多晶樣品的取向襯度像，這些對研究晶體的結晶學特性很有用處。
所謂圖像的模擬量處理是在探測器到顯微鏡顯像管之間信號轉換過程中的模擬量處理。目的是改變圖像襯度以適應人們的觀察和辨認。常用的圖像模擬量處理方法有以下幾種。
顯微鏡差值放大或壓直流技術一這是指在壓低信號中的直流成分而加大各象元處信號的差值。它適用于信號太小的圖像。
徠卡DM500顯微鏡非線性放大(也稱灰度或廠控制)一這種處理目的是顯微鏡局部放大圖像中某電平范圍內的信號差值。如果原始襯度給出的圖像信號電平覆蓋范圍很大，而人們感興趣的只是近黑電平(即強度zui低值)或白電平(強度zui高值)區的一部分信息細節，便可用非線性放大單元來放大感興趣區的信號以顯示出其中更多細節。
以上徠卡DM500顯微鏡是zui常用的二種襯度調節法。此外還有徠卡DM500顯微鏡襯度黑白翻轉、信號微分和Y調制等圖像處理方法可供人們選用。
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更新時間：2017-02-16 
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